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C60的在鈣鈦礦中應用
發(fā)布時(shí)間：2024-02-23 213 次瀏覽
C60的在鈣鈦礦中應用單結和多結電池的性能在很大程度上受到鈣鈦礦/有機電子傳輸層界面的能量損失限制。波茨坦大學(xué)Jonathan Warby和Martin Stolterfoht等人通過(guò)光致發(fā)光、光電子能譜和第一性原理數值模擬的結合揭示了鈣鈦礦/C60界面處界面能量損失主要在 C60的第一個(gè)單層內。文···
C60的在鈣鈦礦中應用
單結和多結電池的性能在很大程度上受到鈣鈦礦/有機電子傳輸層界面的能量損失限制。
波茨坦大學(xué)Jonathan Warby和Martin Stolterfoht等人通過(guò)光致發(fā)光、光電子能譜和第一性原理數值模擬的結合揭示了鈣鈦礦/C60界面處界面能量損失主要在 C60的第一個(gè)單層內。
文中指出在 PVK/C60界面存在著(zhù)4種能量損失的途徑:
1.鈣鈦礦自己內部的缺陷造成損失。
2.鈣鈦礦上的空穴與C60上電子復合損失。
3.C60表面的空穴與電子復合損失。
4.C60內部的空穴與電子復合損失。
進(jìn)一步的研究證明,C60/PVK界面的效率損失主要來(lái)自于C60的DOS拓寬,以及C60/PVK 間的空穴/電子復合。
為了進(jìn)一步抑制這2種缺陷模式,一般做法如下：
1.降低C60/PVK界面空穴濃度。
2.引入HBL層。
3.減少C60/PVK的接觸點(diǎn)位(圖案化PVK表面)。
即便C60存在這個(gè)問(wèn)題,但是C60相對于其他ETL材料也具無(wú)與倫比的優(yōu)勢:
1.高電子親和力和遷移率。
2.它們的LUMO與許多常見(jiàn)的鈣鈦礦的適當。
3.球形具有更好的電子垂直傳輸的能力。
C60的溶解性和團聚結晶問(wèn)題，通過(guò)溶液法難以制備出形貌良好的C60薄膜，因此采用熱蒸發(fā)是目前C60最好的加工方式。
提一個(gè)問(wèn)題:目前大多鈣鈦礦電池結構引入HBL層BCP,但為何BCP不直接插在PVK/C60中間，而都是插在C60/金屬的界面？有興趣的團隊可以聯(lián)系我司，或者問(wèn)下點(diǎn)評留言均可。
普諾遜真空是一家專(zhuān)業(yè)從事鈣鈦礦生產(chǎn)的設備商，目前擁有各種尺寸熱蒸發(fā)驗證平臺。歡迎有興趣的團隊來(lái)訪(fǎng)洽談。
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